“隨著科技的飛速發(fā)展，電子顯微技術(shù)已成為科研和工業(yè)領(lǐng)域的重要工具。多年來，飛納不斷推出具有創(chuàng)新性和競爭力的產(chǎn)品，贏得了全球用戶的廣泛贊譽(yù)。飛納電鏡始終秉持創(chuàng)新精神，不斷突破技術(shù)壁壘，為全球用戶帶來更加先進(jìn)、高效的產(chǎn)品。”

一直被模仿！飛納電鏡煥新賦能中國科研，自從臺(tái)式場發(fā)射問世，備受好評(píng)，目前臺(tái)式場發(fā)射又有新突破，飛納臺(tái)式場發(fā)射掃描透射一體機(jī)——Pharos STEM，掃透模式下分辨率突破 1nm，為臺(tái)式掃描電鏡解鎖更多應(yīng)用！

今日我們榮幸地宣布，飛納臺(tái)式掃描電鏡技術(shù)再次實(shí)現(xiàn)重大突破，將帶掃描電鏡行業(yè)進(jìn)入全新的 AI 智能時(shí)代！掃描電鏡，不止是一臺(tái)電鏡！

飛納電鏡，不止是掃描電鏡！

一起來解鎖飛納電鏡新技術(shù)！

Part.1  Phenom MAPS 系統(tǒng)

“人如其名”，MAPS 是地圖的意思，該系統(tǒng)會(huì)像地圖一樣，通過層級(jí)的方式，實(shí)現(xiàn)對樣品的拍攝與數(shù)據(jù)回看。Phenom MAPS 提供的是一個(gè)涵蓋所有樣品信息的數(shù)碼存檔，從全面（宏觀）到具體（微觀）無所不包，變革了傳統(tǒng)掃描電鏡的分析與數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模式。并且，多圖層數(shù)據(jù)可以包含能譜。

這里是一個(gè)地質(zhì)樣品的能譜拼圖結(jié)果，Phenom MAPS 可以實(shí)現(xiàn)對整個(gè)樣品的能譜采集，導(dǎo)出任意拼接的原始能譜數(shù)據(jù)，以方便進(jìn)行離線分析。

Part.2  ChemiSEM 技術(shù)

一鍵點(diǎn)擊，掃描電鏡也有“彩色照”啦！

在 SEM 成像同時(shí)也可以實(shí)時(shí)收集 EDS 能譜信號(hào)，無需反復(fù)切換成像和分析模式，可以快速獲取樣品的成分信息。

Phase Mapping 技術(shù)相分布更直觀

在使用能譜檢測樣品的同時(shí)，可顯示出不同相在樣品中的分布情況，使得物相分布直觀可見，同時(shí)具有相歸類，計(jì)算相比例等功能，非常適用于合金、陶瓷、礦物分析等領(lǐng)域的測試分析。

即使沒有豐富的經(jīng)驗(yàn)，也能定位微量和痕量元素。 完整全面的分析，明確無誤地識(shí)別主要和次要組分，直至單個(gè)像素級(jí)別。在峰重疊導(dǎo)致重要元素模糊不清的情況下，定位組分。只需極少量的 X 射線數(shù)據(jù)即可開始相態(tài)判斷。即使是復(fù)雜的相圖，也能在不到一分鐘內(nèi)完成。 

Phase Mapping 自動(dòng)給出相分布結(jié)果

Part.3  Avizo Trueput 軟件

為您的電池質(zhì)量保駕護(hù)航！

專門為電池質(zhì)控而研發(fā)的，為您帶來自動(dòng)化的電池質(zhì)量控制和檢測的創(chuàng)新型解決方案。開發(fā)此軟件時(shí)充分考慮到生產(chǎn)車間的需求，Avizo Trueput 軟件可以幫助您縮短 QA/QC 檢測時(shí)間，而且操作非常簡單: 使用飛納電鏡獲取圖像后，選擇用于自動(dòng)檢測的分析方式，一鍵自動(dòng)生成您的檢測報(bào)告，使您可以在生產(chǎn)現(xiàn)場輕松獲取可重復(fù)的結(jié)果。

Part.4 CISA，關(guān)聯(lián)一切可視化圖片

光鏡、拉曼、紅外、XPS，甚至 CAD 或手繪草圖，通通可以關(guān)聯(lián)。下圖案例：通過 MAPS CISA，將 SEM 和 XPS 面分布以及全譜分析的功能相結(jié)合，分析多孔砂粒子的表面組成和形貌。

通過結(jié)合 XPS 和 SEM 的分析，可以精確地將化學(xué)信息與顯微鏡提供的高分辨率結(jié)構(gòu)信息融合。CISA 關(guān)聯(lián)工作流程尤其適用于研究電池、高分子材料、催化劑和金屬等樣品的材料研究。

新品發(fā)布會(huì)直播預(yù)告

飛納電鏡將在第十屆電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò)會(huì)議，重磅發(fā)布新產(chǎn)品以及應(yīng)用案例！

“第十屆電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò)會(huì)議（iCEM 2024）”結(jié)合目前電子顯微學(xué)主要儀器技術(shù)及應(yīng)用熱點(diǎn)，邀請業(yè)界電子顯微學(xué)專家、電子顯微學(xué)儀器技術(shù)專家、電子顯微學(xué)應(yīng)用專家等，重點(diǎn)邀請近來有重要工作成果進(jìn)展的優(yōu)秀青年學(xué)者代表線上分享精彩報(bào)告。

iCEM 2024

復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司應(yīng)用專家張傳杰將帶來主題【新品發(fā)布：飛納臺(tái)式掃描電鏡的技術(shù)突破及全新智能型離子研磨制樣平臺(tái)介紹】報(bào)告時(shí)間：2024 年 6 月 26 日 10:30-11:00，歡迎大家報(bào)名預(yù)約觀看。

歡迎您隨時(shí)聯(lián)系我們獲取更多產(chǎn)品詳情和應(yīng)用案例